Eesti teadlased ja ettevõtjad saavad nüüdsest põhjalikult analüüsida erisuguste materjalide koostist ning eelkõige ainete pinnakihti. Tartu ülikooli uus mõõteriist annab mh tagasiside nanomaterjalide või nanomõõdus pinnakatete kvaliteedi kohta.
Tartu ülikooli keemia instituut soetas endale umbes poolteist miljonit eurot maksnud mõõteriista – lennuaja sekundaarioonide mass-spektromeetri ehk lühemalt ToF-SIMS mõõtekompleksi. Tartu ülikooli optika ja spektroskoopia vanemteadur Sven Lange rääkis ERR Novaatorile, et see on Eesti esimene sellise analüüsivõimega masin aine pinna analüüsiks. Tema hinnangul loob masin Eesti teadlastele konkurentsieelise.
Lange kirjeldab, et seade aitab hinnata erinevaid probleeme, mis on seotud nii aatomite kui ka molekulide identifitseerimise ja paiknemise tuvastamisega aine pinnal ja selle läheduses.
„Siin võib näiteks tuua keemilise sünteesiga loodud nanomaterjalid või nanomõõdus pinnakatted, mille kvaliteedist võimaldab aparaat tagasisidet saada. Pinnad ja pindade füüsika on üliolulised. See on üks nanotehnoloogia suuri valdkondi: kuidas teha väga õhukesi pinnakatteid ja kuidas mõjutavad erinevad pinnakatted materjalide omadusi,“ rääkis vanemteadur.
Lange sõnul saavad mõõteriista kasutada nii teadlased kui ka ettevõtjad. „Niivõrd suure avaliku raha investeeringu tulemus peab olema kättesaadav. See pole kindlasti kellegi isiklik seade, vaid igal juhul avalikke huve teeniv mõõtekompleks.“ Masin soetati Eesti teaduse teekaardiobjekti „Nanomaterjalid – uuringud ja rakendused” raames USA-st.
Loe masina kohta lähemalt ERR Novaatorist
Lisainfo: Sven Lange, TÜ optika ja spektroskoopia vanemteadur, tel: 737 4718, e-post: sven.lange@ut.ee |
Maaeluvõrgustiku teenistus 
Sisukaart
Prindi
Üles